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Verification of Electron Distributions in Silicon by means of Hot-Carrier Luminescence Measurements
SELMI, Luca
•
MASTRAPASQUA, M
•
BOULIN, D. M
altro
PINTO, M. R.
1998
journal article
Periodico
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
DOI
10.1109/16.662779
WOS
WOS:000072662800008
Archivio
http://hdl.handle.net/11390/671600
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/scopus/2-s2.0-0001743471
Diritti
metadata only access
Web of Science© citazioni
35
Data di acquisizione
Mar 25, 2024
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