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Impiego dell’analisi di diffrazione dei raggi X (XRD) per lo studio dei fenomeni di raffermamento del pane

MANZOCCO, Lara
•
NICOLI, Maria Cristina
•
Labuza TP
2002
  • journal article

Periodico
TECNICA MOLITORIA
Abstract
L’analisi di diffrazione dei raggi X è stata utilizzata per studiare la cristallinità di campioni di pane conservati a -18°, 4° e 25°C fino a 20 giorni. L’aumento di consistenza del prodotto durante il raffermamento è risultato ben correlato con la sua cristallinità. In presenza di fenomeni di migrazioni di umidità dall’interno del pane verso la superficie esterna maggiormente disidratata, l’incremento di consistenza è stato osservato dipendere non solo dai cambiamenti di cristallinità ma anche di quelli di attività dell’acqua. Inoltre, questi due parametri sembrano agire sinergicamente nel modificare la consistenza del pane.
Archivio
http://hdl.handle.net/11390/686189
Diritti
closed access
Soggetti
  • XRD

  • raffermamento

  • prodotti da forno

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