A Comparative Study of Hot-Carrier Induced Light Emission and Degradation in Bulk and SOI MOSFETs

SELMI, Luca

•

SANGIORGI, Enrico

•

PAVESI M

altro

ACOVIC A

1995

conference object

DOI

10.1109/IEDM.1995.497180

WOS

WOS:A1995BF10D00009

Archivio

http://hdl.handle.net/11390/667099

info:eu-repo/semantics/altIdentifier/scopus/2-s2.0-0029536329

Diritti

metadata only access

Scopus© citazioni

4

Data di acquisizione
Jun 7, 2022

Visualizzazioni

1

Data di acquisizione
Jun 8, 2022