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Thermal Characterization of GaAs MESFETs by means of Pulsed Measurements
SELMI, Luca
•
RICCO B.
1991
conference object
Archivio
http://hdl.handle.net/11390/682578
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/scopus/2-s2.0-84859892996
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4
Data di acquisizione
Apr 19, 2024
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