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Characterization of Si-doped GaAs cross-sectional surfaces via ab initio simulations
DUAN X.
•
PERESSI, MARIA
•
BARONI S.
2005
journal article
Periodico
PHYSICAL REVIEW. B, CONDENSED MATTER AND MATERIALS PHYSICS
Abstract
-
DOI
10.1103/PhysRevB.72.085341
WOS
WOS:000231564600121
Archivio
http://hdl.handle.net/11368/1698896
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/scopus/2-s2.0-33644940661
Diritti
metadata only access
Soggetti
-
Web of Science© citazioni
13
Data di acquisizione
Mar 20, 2024
Visualizzazioni
1
Data di acquisizione
Apr 19, 2024
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