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Relationship between capacitance and conductance in MOS capacitors
Caruso, E.
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Lin, J.
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Monaghan, S.
altro
Hurley, P. K.
2019
conference object
DOI
10.1109/SISPAD.2019.8870553
WOS
WOS:000651583400080
Archivio
http://hdl.handle.net/11390/1168665
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/scopus/2-s2.0-85074319953
Diritti
metadata only access
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1
Data di acquisizione
Jun 14, 2022
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Data di acquisizione
Apr 19, 2024
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