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A Comparative Analysis of Substrate Current Generation Mechanisms in Tunneling MOS Capacitors
PALESTRI, Pierpaolo
•
DALLA SERRA, Alberto
•
SELMI, Luca
altro
F. Widdershoven
2002
journal article
Periodico
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
Archivio
http://hdl.handle.net/11390/878370
Diritti
metadata only access
Visualizzazioni
3
Data di acquisizione
Apr 19, 2024
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