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Strain engineering in MOS and Tunnel FETs: models, challenges and opportunities
ESSENI, David
2012
conference object
Archivio
http://hdl.handle.net/11390/865624
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/scopus/2-s2.0-85088012842
Diritti
closed access
Visualizzazioni
3
Data di acquisizione
Apr 19, 2024
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