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Deep n-well MAPS in a 130 nm CMOS technology: Beam test results

BOMBEN, MARCO
•
BOSISIO, LUCIANO
•
GIACOMINI, GABRIELE
altro
et al SLIM5 Collaboration
2010
  • journal article

Periodico
NUCLEAR INSTRUMENTS & METHODS IN PHYSICS RESEARCH. SECTION A, ACCELERATORS, SPECTROMETERS, DETECTORS AND ASSOCIATED EQUIPMENT
DOI
10.1016/j.nima.2010.02.193
WOS
WOS:000283954800053
Archivio
http://hdl.handle.net/11368/2297793
info:eu-repo/semantics/altIdentifier/scopus/2-s2.0-77957857044
Diritti
metadata only access
Soggetti
  • Silicon pixel sensor

  • MAPS

  • Beam test

  • Deep n-well

  • Charged particle trac...

Scopus© citazioni
6
Data di acquisizione
Jun 7, 2022
Vedi dettagli
Web of Science© citazioni
6
Data di acquisizione
Mar 27, 2024
Visualizzazioni
1
Data di acquisizione
Apr 19, 2024
Vedi dettagli
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