Dal micro al macro: indagare l'infinitamente piccolo per la ricerca, la didattica e la terza missione.

In un microscopio elettronico a scansione, un fascio di elettroni di dimensioni nanometriche viene focalizzato su punti successivi del campione da analizzare. Rivelatori collocati all’interno del microscopio permettono di raccogliere informazioni da diversi fenomeni causati dall’impatto degli elettroni sul campione. Tra questi, gli elettroni secondari vengono espulsi dagli strati superficiali del campione e ne mostrano la morfologia, fino a dettagli di dimensioni inferiori a 1 nm. Gli elettroni retrodiffusi sono elettroni a energia maggiore che provengono da strati più interni e permettono di distinguere aree del campione chimicamente differenti. A causa dell’impatto degli elettroni, dal campione vengono espulsi anche raggi X che rivelano la composizione chimica presente in ogni punto del campione. I campioni utilizzati nella microscopia SEM devono essere in grado di condurre gli elettroni. A tale scopo, i campioni vengono spesso ricoperti da uno strato metallico.